Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2025
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Dates et versions

hal-05242415 , version 1 (05-09-2025)

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Citer

Mohamed Tlig, Bassem Zitouna, Moncef Kadi, Mahmoud Hammouda, Jaleleddine Ben Hadj Slama. Conducted EMI assessment of aging power Si-MOSFET in 3 phase inverter. Microelectronics Reliability, 2025, 173, pp.115872. ⟨10.1016/j.microrel.2025.115872⟩. ⟨hal-05242415⟩
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