Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2025
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https://normandie-univ.hal.science/hal-05242415
Soumis le : vendredi 5 septembre 2025-15:52:04
Dernière modification le : mardi 11 novembre 2025-18:55:34
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-05242415 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2025.115872
Citer
Mohamed Tlig, Bassem Zitouna, Moncef Kadi, Mahmoud Hammouda, Jaleleddine Ben Hadj Slama. Conducted EMI assessment of aging power Si-MOSFET in 3 phase inverter. Microelectronics Reliability, 2025, 173, pp.115872. ⟨10.1016/j.microrel.2025.115872⟩. ⟨hal-05242415⟩
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