Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
Moncef KADI : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://normandie-univ.hal.science/hal-02307309
Soumis le : lundi 7 octobre 2019-14:44:43
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Citer
A. Alaeddine, Moncef Kadi, K. Daoud. Performance and structure degradations of SiGe HBT after electromagnetic field stress. 2011 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Apr 2011, Monterey, United States. pp.CD.1.1-CD.1.6, ⟨10.1109/IRPS.2011.5784555⟩. ⟨hal-02307309⟩
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