Article Dans Une Revue
Electronics Letters
Année : 2006
Moncef KADI : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://normandie-univ.hal.science/hal-02307005
Soumis le : lundi 7 octobre 2019-11:22:17
Dernière modification le : jeudi 10 mars 2022-10:46:02
Citer
I. Chahine, Moncef Kadi, E. Gaboriaud, C. Maziere, A. Louis, et al.. Modelling of integrated circuit susceptibility to conducted electromagnetic disturbances using neural networks theory. Electronics Letters, 2006, 42 (18), pp.1022. ⟨10.1049/el:20061903⟩. ⟨hal-02307005⟩
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