Article Dans Une Revue
IET Science Measurement and Technology
Année : 2007
Moncef KADI : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://normandie-univ.hal.science/hal-02306991
Soumis le : lundi 7 octobre 2019-11:19:00
Dernière modification le : jeudi 10 mars 2022-10:46:02
Citer
I. Chahine, Moncef Kadi, E. Gaboriaud, X. Gallenne, A. Louis, et al.. Enhancement of accuracy for measuring the susceptibility of integrated circuits to conducted electromagnetic disturbances. IET Science Measurement and Technology, 2007, 1 (5), pp.240-244. ⟨10.1049/iet-smt:20060142⟩. ⟨hal-02306991⟩
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