Methodological development of nanoscopic defects characterization in nuclear materials: Contribution of TEM-APT correlative microscopy
Domaines
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
|---|---|
| Licence |
![]() |
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
|---|---|
| Licence |
Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://normandie-univ.hal.science/hal-05315420
Soumis le : mercredi 15 octobre 2025-09:21:16
Dernière modification le : vendredi 20 mars 2026-10:16:08