Chapitre D'ouvrage
Année : 2020
Etienne Talbot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
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Soumis le : mercredi 20 décembre 2023-10:41:22
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03
Citer
Lorenzo Rigutti. Inaccuracies in atom probe measurements of semiconductor composition. Advances in Imaging and Electron Physics, 213, Elsevier, pp.55-88, 2020, Advances in Imaging and Electron Physics, ⟨10.1016/bs.aiep.2019.11.004⟩. ⟨hal-04355322⟩
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