Fiabilité des transistors radiofréquence de puissance aux agressions électromagnétique et thermique - Normandie Université Access content directly
Book Sections Year : 2020
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Dates and versions

hal-02933542 , version 1 (08-09-2020)

Identifiers

  • HAL Id : hal-02933542 , version 1

Cite

Samh Khemiri, Moncef Kadi. Fiabilité des transistors radiofréquence de puissance aux agressions électromagnétique et thermique. Les systèmes mécatroniques embarqués - 1 : analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation, ISTE - Edition, 2020, 9781784056476. ⟨hal-02933542⟩
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