index - Equipe NIMPH du CIMAP - Nanomatériaux, Ions et Métamatériaux pour la PHotonique

Bienvenue sur la collection de l'équipe Nanomatériaux, Ions et Métamatériaux pour la PHotonique (NIMPH) du laboratoire CIMAP

L'équipe NIMPH est impliquée dans l’étude des nanomatériaux, des ions et des métamatériaux avec pour objectif le développement de structures en couches minces présentant des caractéristiques innovantes dans les domaines de la microélectronique, de la photonique et de l'énergie.

Fichiers

197

 

 

Notices

242

 

 

Nous contacter

Référent HAL de l'équipe :
M. Julien Cardin
Tél. 02 31 45 26 64
julien.cardin@ensicaen.fr

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Mots clés

Waveguide Optical properties Raman Nanostructuring Liposomes Multilayers FTIR Thin film IR spectroscopy Rare earths Reactive magnetron sputtering Magnetron sputtering XRD Microstructure Rare earth Lifetime Oxides Down-conversion Computational electromagnetic methods Silicium Silicon photonics Si nanocluster PZT Refractive index Terres rares Fluorescence Rare-earth CoMoS Doping Raman scattering Oxide interface Guide d'onde HR STEM-HAADF Si-rich silicon oxide Phase transition Friction Infrared absorption Sputtering GENOMIQUE Pulvérisation magnétron radiofréquence Grazing incidence X-ray diffraction Nanostructure Nanoparticles Microstructure physique Optical amplifiers Photovoltaic Silicon nanocrystals Energy transfer Oxygen vacancies High-k dielectrics Quantum-well M-lines MoS2 Conductivity ADE-FDTD Thin films Crystal structure Waveguides CO adsorption Cathodoluminescence Rare-earth ions Silicon nitride Nanostructured materials Irradiation Films Citric acid Hillocks Epitaxy Electroluminescence Erbium Couches minces semi-conductrices Microstructure physics Hafnium silicates Al2O3 Matériaux hybrides Radiofrequency magnetron sputtering Hybrid materials AFM Semiconductors Silicon nanoclusters Nanoparticules Oxide materials RF magnetron sputtering Structural properties Electron paramagnetic resonance Couches minces Copper Neodymium Terbium Hafnium silicate Photoluminescence Pulvérisation cathodique Atom probe tomography Silicon Luminescence Cerium Laser pyrolysis SiC Nanostructures Feature erasure