Operando electrical biasing TEM experiments of Ge-rich GST thin films with FIB sample preparation - Interférometrie In-situ, Instrumentation pour la Microscopie Electronique
Article Dans Une Revue Journal of Alloys and Compounds Année : 2024

Operando electrical biasing TEM experiments of Ge-rich GST thin films with FIB sample preparation

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L. Zhang, Bumsu Park, Lucas Chapuis, Kilian Gruel, Robin Cours, et al.. Operando electrical biasing TEM experiments of Ge-rich GST thin films with FIB sample preparation. Journal of Alloys and Compounds, 2024, 1003, pp.175626. ⟨10.1016/j.jallcom.2024.175626⟩. ⟨hal-04727916⟩

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